• Microscopio Electrónico de Barrido JEOL JSM 6300.
• Voltaje de aceleración: de 0.2 a 30 kv.
• Magnificación: de 10x a 300.000x (wd = 39 mm).
• Resolución:
  • Con electrones secundarios 3.5 nm (a 30 kv, wd =8 mm).
  • Con electrones retrodispersados 10.0 nm (a 30 kv, wd =8 mm).
• Está equipado con un Sistema de microanálisis Inca energy 250
  • Detector de SiLi tipo de ventana ( ATW2 ).
  • Rango de detección: Del boro al uranio.
  • Resolución: 137 eV a 5.9 Kev.
• El software permite el análisis cualitativo y semicuantitativo, mapeado de elementos, distribución elemental en una línea de barrido, comparación de espectros etc...

• La Microscopía Electrónica de Barrido proporciona imágenes de la morfología externa de una muestra, bastante similares en apariencia a las percibidas por el ojo. Proporcionando imágenes basadas principalmente en el contraste topográfico. Se trata, por tanto, de una técnica que nos permite observar y estudiar superficies de un área muy reducida de cualquier tipo de material, bien sea orgánico o inorgánico, sin necesidad de pasar por procesos de preparación muy complejos, ya que los requerimientos más importantes son que la muestra esté dehidratada y sea eléctricamente conductora. Cuando alguna de estas condiciones no se cumple, las muestras deben ser tratadas convenientemente en la unidad de preparación de muestras.

  La técnica se basa en iluminar una muestra con un haz focalizado de electrones. Las señales producidas por la interacción entre los átomos y el haz electrónico son captadas por diferentes tipos de detectores.

  El equipamiento actual consta de un detector de electrones secundarios (SE) que proporciona imágenes topográficas de la superficie de la muestra, un detector de electrones retrodispersados (BSE) que proporciona imágenes en escala de grises relativas a los elementos constituyentes de la muestra, un detector por dispersión de energías de Rayos X (EDS) que permite el análisis cualitativo y semicuantitativo de los elementos constituyentes de la muestra.

  Una de las características que mejor define a la microscopía electrónica de barrido es su excelente poder de resolución (3,5 nm y 300.000x) que unido a la gran profundidad de campo y al efecto de sombreado le convierten en una herramienta de un alto potencial a la hora de realizar análisis tridimensionales de estructuras.
  

• Investigación en general en ciencias Biomédicas, Geológicas, Químicas, Físicas.
• Estudio químico y estructural de obras de arte, alteración de monumentos, control de calidad...
• Investigaciones geomineras, cristalográficas, mineralógicas y petrológicas.
• Control de calidad y estudio de fatiga de materiales.
• Valoración del deterioro de materiales.
• Control de materiales mediante observación de superficies.
• Determinación de la morfología de los materiales.
• Estudio de la presencia de defectos y estado de agregación de los mismos.
• Determinación del grado de cristalinidad y morfología de las muestras.
• Estudio y caracterización de sustancias desconocidas.
• Determinación de tamaño y forma de partículas.
• Estudio de la presencia de defectos en materiales de construcción, semiconductores, etc .
• Estructura interna de láminas delgadas de materiales.
• Observación de muestras geológicas y análisis cristalográficos por difracción de electrones.
• Microanálisis de elementos en superficies, desde el carbono al uranio.
  

• Responsable: D. Francisco Gracia Alfonso
• Ubicación:
  
        Edificio Ramón y Cajal.
        Planta Baja.
        Campus de Rabanales.
        Córdoba (España)

• Teléfono: 957 218734
• Fax: 957 218733
• E-mail: microscopia@uco.es

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Tarifas

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