• Microscopio Electrónico de Barrido JEOL JSM 6300

• Resolución: 3~4 nm (a 30 kv, wd =8 mm)

• Magnificación: 70x (wd = 39 mm) a 300.000x

• Tipos de imagen:

SEI (1. electrones secundarios)
COMP (1. electrones retrodispersados, composición)
TOPO (1. electrones retrodispersados, topografía)
ECP (Canalización de electrones)

• Voltaje de aceleración:

de 0.2 a 5 kv (pasos de 100 v)
Corriente de sonda: 10 -12 a 10 -5 A
Cámara de muestras: goniómetro excéntrico de –5º a 90º
Cámaras fotográficas:

Polaroid 7 x 9 cm
Mamiya 7 x 9 cm
video-impresora 7 x 9 cm

Equipado con sistema de Microanálisis EDS LINK ISIS
Detector de rayos X de 138 eV de resolución y ventana de tipo ATW.
Programas de análisis cualitativo y semicuantivo.
Digitalización de imágenes, y mapeado de elementos.

• Investigación en general en ciencias Biomédicas, Geológicas, Químicas, Físicas.

• Estudio químico y estructural de obras de arte, alteración de monumentos, control de calidad...

• Investigaciones geomineras, cristalográficas, mineralógicas y petrológicas.

• Control de calidad y estudio de fatiga de materiales.

• Valoración del deterioro de materiales

• Control de materiales mediante observación de superficies

• Determinación de la morfología de los materiales.

• Estudio de la presencia de defectos y estado de agregación de los mismos

• Determinación del grado de cristalinidad y morfología de las muestras.

• Estudio y caracterización de sustancias desconocidas.

• Determinación de tamaño y forma de partículas

• Estudio de la presencia de defectos en materiales de construcción, semiconductores, etc

• Estructura interna de láminas delgadas de materiales.

• Observación de muestras geológicas y análisis cristalográficos por difracción de electrones

• Microanálisis de elementos en superficies, desde el carbono al uranio.